中古 HITACHI WA 3300 #9232735 を販売中

HITACHI WA 3300は、各種サンプルの高解像度イメージングと解析を可能にする走査型電子顕微鏡（SEM）です。フォーカスの安定性を最適化し、画像解像度を向上させ、動作速度とスループットを向上させるための高度なAbbeおよびフィールド放射技術を備えています。本装置の主柱にはフィールドエミッションガン（FEG）と高電圧電源が装備されており、焦点深度の向上と球面収差の低減を実現しています。これにより、広範囲の倍率で同時に高解像度のイメージングと画像安定性を実現します。大型サンプルに最適な低倍率から超高倍率まで、さまざまな対物レンズで操作でき、詳細な表面解析に最適です。MAS （Mass Analysis System）は、超高性能遅延線検出器と高安定性の二次電子検出器の両方を備えた高集積一次および二次カラムを備えた非常に高速な画像取得を提供します。MASはまた、半導体、金属、セラミックおよび有機材料などの幅広い材料を観察するための高感度を提供します。EBFS （Electron Beam Focusing System）は、HITACHI WA3300の強力で堅牢な機能で、ビームの横方向と縦方向の位置を調整することで、最適なサンプリングビームのための便利なビーム制御を可能にします。この機能は、凹凸サーフェスまたは複雑なフィーチャーを持つサンプルに特に役立ちます。また、WA-3300は独自のイメージングおよび分析システムを備えており、イメージングおよび分析中のイメージングパラメータのリアルタイム観察と最適化を可能にします。リアルタイムの電子ビーム最適化プロセスにより、SEM操作の複雑さが簡素化され、効率的な操作と短時間の分析時間のためのワークフローが合理化されます。最後に、WA3300は、自動サンプル準備ユニット、ユーセントリック自動ステージオプション、デジタルSEMイメージプロセッサ、さまざまなデータ分析および取得システムなど、SEMアクセサリの大規模な選択肢を収容しています。これらのコンポーネントは、使いやすさと高性能を兼ね備えており、WA 3300はさまざまなサンプル分析およびイメージングアプリケーションに最適です。