中古 HITACHI S-3000H #293645414 を販売中

日立電子走査顕微鏡（HITACHI S-3000H Scanning Electron Microscope、 SEM）は、電子のスキャンされたビームで小さな物体をスキャンして観察する光学装置です。この顕微鏡には、高解像度の広視野対物レンズシステム、2次元（2D）加速度計、最新のコンピュータ支援画像処理技術が搭載されており、サンプル表面の正確な画像をユーザーに提供します。HITACHI S 3000 Hは、サンプル表面を2次電子検出器と逆散乱電子検出器を使用して撮影します。スキャン電子ビームは、2次元加速度計によってサンプル表面全体に偏向され、2次及び2次散乱電子が間隔をおいて収集され、イメージングメディアに記録されます。サンプル表面はx、 y、 z平面パターンでスキャンすることで3Dサーフェスマップに形成されるため、サーフェスフィーチャーの正確な測定が可能です。S-3000Hはまた、高解像度用レンズと広視野画像とスキャン用レンズの1セットを備えたデュアル対物レンズシステムを備えています。これにより、高倍率での高解像度イメージングと、より広い領域の広域画像の両方が可能になります。顕微鏡にまたスキャンパターンおよび掃引モードの範囲があり、必要に応じてより専門にされたスキャンパターンとカスタマイズすることができます。S 3000 Hの画像処理・解析機能により、高解像度・コントラストでの画像処理が可能であり、加工後の3D表面再構築が可能です。顕微鏡によって生成された画像は、視野が広く、非常に小さな特徴を解像し、正確に測定することができます。このシステムには、表面のイメージングをカスタマイズするための幅広いステージモーションシーケンスを備えたサンプル位置決め用の自動ステージが装備されています。HITACHI S-3000Hは、サンプル表面の詳細な画像をお客様に提供する強力な光学機器であり、産業分野および学術分野の幅広い研究用途に使用できます。汎用性の高いスキャンモードと強力な画像処理機能を組み合わせることで、サンプル表面の高速かつ効率的なイメージングが可能になります。