中古 HITACHI S-2700 #9046624 を販売中

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製造業者
HITACHI
モデル
S-2700
ID: 9046624
ヴィンテージ: 1992
Scanning electron microscope (SEM) Noran 643C-1SSS EDS 1992 vintage.
HITACHI S-2700は、硬質および軟質材料の拡大イメージングに使用される走査型電子顕微鏡(SEM)です。標準の3.2kV加速電圧を持つSEMチャンバを搭載し、様々な材料の高解像度イメージングを可能にします。高精度のイメージング機能により、S-2700は微細構造解析、故障解析、金属測定、法医学分析などの用途に広く使用されています。HITACHI S-2700 SEMの主成分はフィールドエミッションガン(FEG)で、非常に高い倍率で標本のイメージングに使用できる細かく焦点を当てた電子ビームを生成します。FEGは、陽極電圧を使用してタングステンフィラメントから電子を加速し、サンプルに移動する際に直径を最小限に抑える一次電子ビームを生成します。これにより、非常に高い倍率で標本から集中した高精細画像を得ることができます。S-2700の広角構成により、1枚の画像でより大きな領域を見ることができ、50mmの対物レンズは高倍率の画像を生成するのに役立ちます。SEMはまた、クライオスタットや真空圧力装置などの追加の大気制御システムの必要性を排除する統合チャンバー設計を備えています。これにより、画像をより簡単に作成するためのユーザーフレンドリーな環境が可能になります。HITACHI S-2700には、二次電子検出器と後方散乱電子検出器の2つの検出器があります。これにより、表面イメージングと断面イメージングの両方が可能になり、電子を標本に放出するか、標本から散乱した電子を検出してより深いイメージングを行うことで、画像を作成することができます。デュアル検出システムは、詳細な3D画像をキャプチャするのに役立ち、ユーザーに画像を探索する自由を与えます。S-2700はまた機械の容易な操作を可能にする作り付けの計算機制御の単位を含んでいます。このコンピュータツールには、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスと、画像取得と操作を最適化するための幅広い処理パラメータが装備されています。全体として、当社S-2700走査型電子顕微鏡は、他の顕微鏡に比べてイメージングやデータ取得を大幅に改善し、高倍率で高解像度の標本画像を作成することができます。デュアルディテクタのアセットと簡単なコンピュータ制御モデルS-2700、微細構造解析、故障解析、金属測定、法医学分析に最適です。
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