中古 HITACHI S-2500C #9080007 を販売中

HITACHI S-2500C走査型電子顕微鏡（SEM）は、世界中の多くの研究所や産業研究所で最高のサンプル観測・分析ツールとして広く知られています。S-2500Cは高度な技術と統合された機能を備えており、優れた汎用性を備えた高解像度イメージングを提供します。電界放出電子源を備えた高性能SEMであるため、試料材料の表面解析を同時に観察することで、最大500,000xの極めて高い倍率を実現します。HITACHI S-2500Cは、ブロードバンドイメージング、分析イメージング、3D/stereoscopicイメージング、超微細分解像度イメージング、超高解像度イメージングなど、市場で最も汎用性の高いSEMの1つです。また、Segment Co-Channel Imaging （SCCI）、 Beamsplitter Mode、 Energy Dispersive X-ray Spectroscopy （EDS）などの高度な機能も提供しており、サンプルの最高画質と最良の分析を保証します。S-2500Cの分析イメージング機能は、粒子サイズ、形態、組成などのさまざまなパラメータのサンプルを正確に分析する手段を提供します。また、ユーザーの要件に基づいて校正を調整できる自動補正装置を備えています。この自動補正システムは、関心のある粒子や特徴を分析する際に最大限の精度を保証します。HITACHI S-2500Cは、最も複雑なサンプル材料でも、超精密解像画像を提供することができます。高解像度イメージング技術は、より高いコントラストを持つ画像を生成する独自のマルチファセティング技術を使用しており、より詳細な観察が可能です。また、特許取得済みの偏向ビームレンズユニットを使用してビームパスを正確に制御し、画像上の電子コントラストを高めます。S-2500Cは、利用可能な様々な機能や機能を簡単にナビゲートできる直感的なユーザーインターフェイスを備えています。直感的なデザインにより、ユーザーは画像をすばやく選択、表示、操作することができます。SEMは、JPG、 PNG、 BMPなどの標準的な画像形式で画像を保存することもでき、異なるプラットフォーム間で画像を簡単に共有できます。HITACHI S-2500Cは、自動補正機を内蔵した2つの導電ステージを提供する強力なサンプル観察・解析ツールです。その汎用性と高度な機能により、優れたサンプル観察と分析が可能になり、サンプル材料を正確に観察および分析することができます。この強力なSEMツールは、可能な限り最高の解像度の画像を取得したい研究所や産業研究所に最適です。