中古 HITACHI NX 2000 #293622849 を販売中

HITACHI NX 2000
製造業者
HITACHI
モデル
NX 2000
ID: 293622849
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
HITACHI NX 2000は、高度なイメージング、優れたスループット、高いサンプルスループットを実現するために設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。このSEMにより、ナノスケールから数百マイクロメートルまでのサンプルの表面形態や微細構造を観察することができます。特に半導体ウェーハの検査には有利です。この電子顕微鏡には、さまざまなイメージング機能、分析および測定機能、高解像度機能、および長期観察のための大きな作業距離など、多くの有利な機能があります。大きい作動距離はより大きいサンプルの観察および必要ならば部品の交換を可能にします。このマシンはまた、100,000Xから1,000,000Xまで幅広い倍率を提供します。さらに、この走査型電子顕微鏡は超高真空デバイスであり、測定中に汚染のない環境を確保します。さらに、この装置は、優れた信号対ノイズ比と感度を備えた高性能検出器を提供します。これにより、ユーザーはより正確で詳細な画像をすばやく取得できます。この顕微鏡には、高解像度のデジタルイメージングシステムが搭載されています。このシステムは、ユーザーにさまざまな画像キャプチャモードと画像処理機能を提供します。このユニットは、厚さや粒子欠陥などのサンプルの特定の特性を識別することができる自動解析ソフトウェアも可能です。NX 2000で設計されたユーザーインターフェイスは、ユーザーがルーチンタスクに対して迅速に操作を設定できるシンプルなコンピューター制御プラットフォームを提供します。このユニットはまた、目的の実験をカスタマイズするための制御と設定に簡単にアクセスできます。HITACHI NX 2000は、電子顕微鏡の最先端モデルの一つであり、材料科学分野の研究者や業界の専門家のための素晴らしいツールです。このユニットは、他の電子顕微鏡では見えない物質の微小構造を正確かつ詳細に把握します。NX 2000のリアルタイムインタラクティブ環境は、サンプルの表面形態と微細構造を効率的かつタイムリーに調査することを可能にします。
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