中古 FEI Nova NanoSEM 230 #293635143 を販売中

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ID: 293635143
Scanning Electron Microscope (SEM).
FEI Nova NanoSEM 230走査型電子顕微鏡は、ナノスケール上の微細構造の研究のための高解像度イメージング技術の最新技術です。この装置は、スキャン電子顕微鏡と透過電子顕微鏡、スキャンオーガ顕微鏡の両方を実行する能力を含む、超高倍率で物体をイメージングするための非常に強力なツールを作るいくつかのユニークな機能を持っています。FEI Nova NanoSEMは、完全に自動化されたステージで構築され、最大8cm/sのステージ移動速度を提供し、ハイスループットイメージング設定に最適なソリューションです。FEI Nova独自のAuto-Tuneテクノロジーにより、顕微鏡はユーザーの入力を最小限に抑え、ユーザーの学習曲線を低減し、イメージングプロセスへの簡単な移行を可能にします。顕微鏡はまた大きい部屋と造られ、十分に封じられた作業区域の外で標本のホールダーを置き、より大きい標本をイメージすることを可能にします。チャンバーはまた、壊れやすいナノスケールのサンプルの移動を最小限に抑えるために、低い初期サンプル圧力を提供します。FEI Novaは、最大30,000倍の広範囲の倍率で標本を撮影することができます。また、自動調整された対物レンズも装備されており、画質はすべての倍率で最高水準であることを保証します。FEI Novaにはデジタル信号プロセッサが内蔵されており、超高速イメージングのために毎秒最大500フレームの速度で画像データを処理することができます。FEI Novaは、高解像度画像を可能にするだけでなく、要素マッピング機能をユーザーに提供する二次電子検出器を備えています。これにより、試料の組成の分析と3次元でのローカライズが可能になります。この顕微鏡には、イメージング中にカラムの高さ、傾き、回転を正確に調整する自動カラム制御システムも装備されています。Nova NanoSEMは、0。05nmの微細解像度で標本の画像を生成することができ、これまで見られなかった微細構造や特徴を観察することができます。自動機能認識により、FEI Novaは試験片の機能を検出し、手動調整を使用せずにこれらの機能をすばやく集中させることができます。これらの機能はすべて、FEI Nova NanoSEMを非常に強力でユーザーフレンドリーな走査型電子顕微鏡にします。
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