中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #126967 を販売中

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ID: 126967
ヴィンテージ: 2002
Wafer prober, 12" Fail mark inspection: Yes Needle inspection option: Yes Auto needle alignment option: Yes Auto needle height setting: Yes Off site marking: No Auto card changer: Only card PGV Camera Oblique and coaxial: Yes TH Clamp: Yes Card guide drawer: No High rigidity chuck: Yes RS232: No GPIB: Yes Driver marker by category: No Cleaning unit: Z-WAPP Z-Axis stroke long: Yes Hot/cold chuck temperature: +50 to +150° Internal printer: No External printer: Yes OCR: No Dual cassette: No Single cassette: Yes SACC Cart available: Yes Alignment board (VIP1, VIP2, VIP3, etc): VIP3 Linear scale: No Chiller: No Stored in a warehouse 2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLnは、精密で自動化された測定と検査を開始するために設計されたプローバーです。このプローバは、シングルウェーハでも4インチウェーハでも、より高いスループットと運用効率を半導体ユーザーに提供することを目的としています。プロービングおよびコンタクタ試験、マイクロバンプ、RF試験およびプロービング、フリップチップバンプボンディング、精密位置決めなど、幅広い用途に適しています。プローバーはコンパクトなボディを誇り、最大サイズは1,540 (W)×1,760 (D)×1,660 (H) mmで、ほぼすべての環境に配置できます。TEL/TOKYO TEL P 12 XLN装置は、コンタクトチェック、検証、IRドロップ、ドモンエリアブリッジングなど幅広い試験が可能です。さらに、そのクラスに優れたスループットとシステムパフォーマンスを提供します。このツールは、動きと精度の優れた範囲を持つプローバー構造を提供します。テーブルエリアは業界最大規模で、最大54。2mm×54。2mmのトラバースと55mmのストロークが可能です。さらに、ダイナミックファインフィーダとリニアサーボモータを内蔵し、高精度な動きと優れたアライメント精度を実現しています。このプローバは、新開発のウェーハチェンジャーを搭載したウェーハの高速実装と取り外しを特徴とし、スループットを大幅に向上させます。それは25µmの正確さでそしてそれ以上測定を取ることができます。さらに、防塵設計により安全なシール構造により、プロセス中のウェーハの保護に優れています。機械にまた高精度の完全な制御を可能にする高度のソフトウェアパッケージがあります。これには、いくつかのテスト機能、完全にコンピュータ制御された操作、およびマクロプログラミング用の組み込みソフトウェアが含まれます。さらに、ユーザーは、詳細な仕様と使用のためのマニュアルで製品に関するオンライン情報にアクセスできます。全体として、P-12XLnは自動化された測定および点検の必要性のための優秀な選択です。優れた精度、高いスループット、柔軟な操作性、ウェーハの安全な環境を保証します。その機能と機能のおかげで、Proberは幅広いアプリケーションや業界に非常に適しています。
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