中古 KLA / TENCOR SFS 7700 #9285219 を販売中

KLA/TENCOR SFS 7700は、自動検査およびプロービング技術を活用し、高速で信頼性の高い再現性のある結果を提供するウェハテストおよび計測機器です。このシステムは、今日の半導体業界の要求に応えるように設計されており、欠陥サイズやチップ収率など、さまざまなパラメータのテストが可能です。これは、優れた精度を提供し、最小の欠陥を検出することができます。KLA SFS 7700は、欠陥検出用に最大0。2 μ mの分解能を提供します。このウェーハテストおよび計測ユニットは、最新のスキャン技術、高度なアルゴリズム、およびウェーハイメージングを使用して、信頼性の高い結果を保証します。このマシンは、最大6 ″のウエハを処理でき、薄膜厚、地形および表面の質感、めっき厚および接着性、および光伝導などのさまざまなパラメータをテストできます。このツールは、追加の計測測定に使用できるオプションの拡張機能も提供します。TENCOR SFS 7700は、テストおよびキャリブレーション機能を内蔵しており、アセットのパフォーマンスの変化を監視するためのキャリブレーションカーブのライブラリも備えています。また、1回のテストセッションで複数のサンプルを測定できる自動サンプル評価機能も備えています。このモデルのソフトウェアは、他のKLA計測システムとシームレスに統合するように設計されています。これにより、データ交換が容易になり、顧客はデータを迅速かつ正確に分析できるようになります。さらに、SFS 7700の直感的なユーザーインターフェイスにより、オペレータはテストパラメータを素早く設定し、結果を監視できます。ウェーハ試験および計測アプリケーションには安全性と信頼性が不可欠であり、KLA/TENCOR SFS 7700は最高レベルの精度を確保するためにさまざまな安全対策を採用しています。複数の緊急停止ポイントと、過熱した部品を検出してすぐにシャットオフする機能などの保護機能を備えています。全体として、KLA SFS 7700は、信頼性と再現性の高い結果を提供するように設計された高度なウェハテストおよび計測機器です。信頼できるパフォーマンスと安全性を確保するためのさまざまな機能が含まれており、直感的なユーザーインターフェイスにより、テストのセットアップと監視が容易になります。TENCOR SFS 7700は、直感的なソフトウェアと高度な検査およびプロービング技術を組み合わせることで、さまざまな半導体アプリケーションで正確で信頼性の高い結果を保証します。