中古 TAIWAN WOS2000 #9177890 を販売中

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TAIWAN WOS2000
販売された
ID: 9177890
Wafer surface organic tester Environment VOC tester.
TAIWAN WOS2000は、半導体ウェーハの光学特性および電気特性スクリーニングを目的とした自動マスクおよびウェーハ検査装置です。これは、ダイの機械的応力と温度誘発試験だけでなく、重要な欠陥のスクリーンテストと分析のための統合ソリューションを提供します。WOS2000は、高度な欠陥検出および自動故障解析を備えた全自動の画像取得および画像処理システムを提供します。このユニットは、0。5umの解像度でウェーハ上の視覚的および電気的に見える欠陥を検出し、手動検査よりも高い精度と再現性を備えています。高画質ビデオカメラ、高精度ステージマシン、高精度なアライメントのための高度な光学セットアップで構成されています。このツールには、運動および回転ステージの駆動と制御、熱測定、光源などのための正確な制御および測定モジュールも装備されています。欠陥解析では、エッジ欠陥、欠損およびオーバーサイズの特徴、ライン欠陥、粒界欠陥、および熱誘発の欠陥など、さまざまな種類の欠陥を検出するようにプログラムすることができます。また「、環境ステッチスペース」技術を使用して、自動故障解析にも使用できます。また、装置の電気的性能や視覚的および印刷された欠陥の直接的な検査と相関を可能にする電気パラメータ測定モジュールなどの特殊なツールやアクセサリをWOS2000しています。また、アセットの電気測定機能により、テスト対象モデル(SUT)の性能を最適化することができ、高価で時間のかかる手動パフォーマンステストを排除できます。さらに、製品のライフサイクルを通じて完全なカスタマーサービスとサポートを提供し、サービスのニーズに効率的かつ迅速に対応します。また、自動画像処理や欠陥解析、SPC解析、サーマルイメージング、欠陥ソート、プロセスモニタリング、データ解析など、さまざまなソフトウェア対応アプリケーションや機能を提供しています。要約すると、WOS2000は、高度な光学特性および電気特性スクリーニング、欠陥解析機能、正確な制御および測定機能、プロセス監視、およびデータ分析機能を備えた包括的な自動ウェーハ検査装置を提供します。ウェーハ製品の品質を向上させながら、時間とコストを節約するように設計されています。
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