中古 RUDOLPH NSX 90 #9124597 を販売中

RUDOLPH NSX 90
ID: 9124597
Wafer inspection systems.
RUDOLPH NSX 90は、フォトマスクやウェーハの検査中に精度と生産性を最適化するために設計された3Dマスク検査装置です。非接触型3Dスキャン技術を活用し、高精度な測定で表面を検査します。干渉光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡を組み合わせることで、パターン欠陥、粒子、ステップハイト、サイドウォール幅、ゲート長、クリティカル寸法、フォトマスクやウエハの粗さを4ミクロンまで簡単に測定できます。RUDOLPH NSX 90には、高度な画像解析機能も含まれています。複雑なアルゴリズムにより、事前に定義された基準と規則に従って欠陥を自動的に識別および分類し、欠陥評価をより迅速かつ正確に行うことができます。その他の機能には、欠陥分類と注釈機能、および取得した画像を保存するための堅牢なデータベースが含まれます。また、最大16倍の光学フィルタオプションを提供し、エンジニアは特定の波長または光源に集中して不要な光の反射を減らし、微細なジオメトリの特徴と欠陥の間のコントラストを高めることができます。さらに、NSX 90には、可変光学曲率、フォーカス調整、低ノイズ温度制御、チューニングされた光学機器が組み込まれています。これらのコンポーネントの組み合わせにより、画像の一貫性と安定性が向上し、精度がさらに向上します。RUDOLPH NSX 90は、マスクとウェーハの検査を合理化するように設計されており、優れたワークフローの最適化、歩留まりの向上、コストの削減をエンジニアに提供します。このツールは使いやすく、ユーザーフレンドリーなUIを備えているため、ユーザーは迅速かつ効果的に制御および測定機能にアクセスできます。NSX 90は、X-RAY Solutionsファミリの一部として、X-RAYマスク検査と工場での自動化を強力にサポートします。さらに、RUDOLPH NSX 90の連続動作機能により、複雑なボード分析をタイトなワークフロー時間枠で長時間処理できます。さらに、リアルタイムのフィードバックと制御機能を備えており、ユーザーは検査パラメータをタイムリーに監視および調整できます。結論として、NSX 90は、強力で効率的で信頼性の高いマスクおよびウェーハ検査モデルをエンジニアに提供します。高度な3Dスキャン技術を活用することで、エンジニアはフォトマスクやウェーハの欠陥を最高の精度と速度で簡単に検査および分類することができます。さらに、システムの堅牢な光学機能と画像解析機能により、リアルタイムのフィードバックと制御機能を提供し、最適化されたワークフロー最適化を実現します。
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