中古 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9261314 を販売中

AMAT/AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3は、チップメーカーのプロセス歩留まり向上を支援する新世代マスクおよびウェーハ検査装置です。これは、高度なマシンビジョン技術のスイートを使用して、各マスクとウェーハの複雑な構造と層を正確に評価し、より迅速かつ信頼性の高いプロセス制御を可能にします。このシステムは、ナノメートルスケールの欠陥の詳細なビューを提供し、歩留まり最適化の取り組みを加速および改善するのに役立ちます。AMAT SemVision G3には、さまざまな自動画像解析機能が搭載されています。高倍率光学システムを採用しており、ナノレベルでの検査も可能です。マイクロボイド、バンプ、傷などの欠陥を、ヒ素ガリウムやフェライトなどのさまざまな材料に捕捉して報告します。これにより、オペレータはエラーの原因を正確に追跡し、すばやく排除することができます。このユニットは、ハードウェア、ソフトウェア、データ管理ツールの包括的なスイートに基づいています。内蔵センサにより、暗い視野、明るい視野、斜め、軸外、明るい視野で高解像度イメージングをサポートするなど、さまざまな検査方法が可能です。分析と報告を容易にするために、3Dパターン検出、オブジェクト分類、柔軟な自動モデルなど、最新の画像処理およびパターン認識技術と統合されています。APPLIED MATERIALTS SemVision G3は、さまざまな品質管理および統計プロセス管理サービスも提供しています。欠陥検出、欠陥マスク検査、粒子評価などがあります。このツールはまた、さまざまな障害分析ツールを提供し、オペレータに情報に基づいた意思決定を可能にするデータ主導の洞察を提供します。さらに、SemVision G3はオンザフライウェーハマッチングとウェーハグレーディングサービスを提供しています。これらのサービスは、リアルタイムスキャンデータを使用してパターンを評価し、異常を特定し、結果を予想されるパフォーマンスと比較します。これにより、メーカーは製品の品質を迅速に評価し、最適化することができます。全体として、AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3は、統合された強力なマスクおよびウェーハ検査アセットを提供し、チップメーカーのプロセス歩留まり向上を支援します。パターン解析、欠陥検出および解析、ウェハーマッチングおよびグレーディング、故障解析などの高度な機能により、生産品質を向上させるための貴重なツールとなります。