中古 FILMETRICS F20 #293621612 を販売中

FILMETRICS F20は、広範囲の材料と放射角度にわたる薄膜厚と光学定数の高精度、非破壊測定を提供するように設計されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、高度なアルゴリズムを使用して、秒単位で正確で再現可能な測定を可能にし、デバイスの性能に直接影響を与えるデバイス層とパラメータを迅速かつ簡単に評価できます。FILMETRICS F 20ユニットは、測定ヘッドとコントロールコンソールの2つの主要コンポーネントで構成されています。測定ヘッドには広い光源が含まれており、ウェハサンプルの光学特性をさまざまな放射角で測定するために使用されます。コントロールコンソールは、サンプルの位置と選択、およびデータ出力オプションを制御するためのユーザーフレンドリーなインターフェイスを提供します。レンズ、プリズム、フィルター、その他の光学部品などのサンプル測定をさらに容易にするために、F20マシンにはさまざまなアクセサリが用意されています。F 20ツールには、特許取得済みのスペクトル楕円計測（SED）アセットが組み込まれており、光干渉を使用してサンプルの厚さと光学定数、および表面粗さを正確に測定します。これにより、サンプル破壊やサンプル処理の必要性を排除しながら、秒単位で正確かつ再現可能な測定が可能になります。SEDモデルはまた、薄膜計測やその他の材料パラメータの正確な検出と追跡を可能にします。FILMETRICS F20機器は、ユーザーが必要なパラメータを正確に計算し、結果を視覚化するのに役立つデータ分析オプションの範囲を提供します。このシステムは、ASCII、 CDF、およびバイナリを含む一般的なフォーマットのデータ出力をさらに提供し、データの共有と分析を容易にすることができます。FILMETRICS F 20ユニットは、半導体、金属、誘電体の層を含むさまざまな材料に精密で再現可能な測定を提供することができます。このマシンは、さまざまなデバイスやアプリケーションの薄層および表面効果を正確かつ迅速に特徴付ける研究者に理想的なプラットフォームを提供します。