中古 USHIO UMA-1002-HC93FS #9098801 を販売中

USHIO UMA-1002-HC93FSは、半導体デバイスメーカーの技術ニーズに合わせて設計された高度な計測グレードの露光装置です。このシステムは、ウェーハの特性評価、欠陥検査、高度なリソグラフィ、およびその他のハイエンドチップ製造プロセスに優れた露出監視機能を提供するために、多くの最先端の技術を統合しています。USHIO UMA 1002-HC93FSの中心には、独自の露出制御ユニットがあります。このマシンは、最適な露出品質を維持するために露出プロセス中にパラメータを自動的に調整するインテリジェントな意思決定を行い、厳しい公差内で信頼性の高い結果を提供します。このツールはまた、E-TownsやE-Lineの温度に対する高度なユーザーコントロールをサポートし、再利用可能な材料を正確に制御します。このアセットには、欠陥を検出し、ウェーハを正確に測定するための堅牢で強力な光学システムが装備されています。この光学系は、Fシータスキャン技術、ハーフトーンのパターン認識、ウェーハチルト測定機能を組み合わせて、露出の品質を定量化します。このモデルは、50ナノメートル以下の欠陥を正確に測定することもできます。また、この機器は、アスペクト比が異なる複数のレイヤーを含む露光ツールとウェーハタイプの大部分で機能するように校正されています。オペレータの寿命と安全性を最大化するために、UMA-1002-HC 93 FSにはさまざまな安全機能が装備されています。このシステムには、電気ショックから保護するための帯電防止プレート、露出プロセスの迅速なシャットダウンのためのアクティブな緊急停止ボタン、緊急時のための緊急電源ボタンが装備されています。さらに、UMA-1002-HC93FSはユーザーフレンドリーなインターフェースを備えているため、ユーザーはユニット設定を簡単に監視および調整できます。このマシンには、詳細なマニュアルと画面上のプロンプトが含まれており、セットアップと操作をユーザーに案内します。全体として、USHIO UMA-1002-HC 93 FSはエレクトロニクス製造業界に高度な計測機能を提供する高度なハイエンド露光ツールです。その特徴と安全対策により、正確で信頼性の高い露光性能を必要とするアプリケーションでの使用に最適です。