中古 RUDOLPH FE III #9100481 を販売中

RUDOLPH FE IIIは楕円計で、薄膜や基板の光学特性を測定するために一般的に使用される装置です。この先進的なツールは、ナノメートル精度で薄膜の光学特性を測定することができ、光学、エレクトロニクス、材料科学、生物学など幅広い分野で広く利用されています。RUDOLPH FEIIIの基本動作は、楕円測定の現象を利用した薄膜の光学特性の測定です。物体に偏光が入射し、反射光の特性を測定する光学的手法です。次に、反射光の偏光角度と強度の変化を使用して、サンプルの光学定数を計算します。FE-IIIは、薄膜特性を正確に測定できる高性能な機能を備えています。これらの機能には、高分解能偏光計、MTECA CCD検出器、特別に設計された光路、直感的なユーザーインターフェイスが含まれます。FEIIIにはさらに、2つの統合チャンバ、光路安定性制御システム、および450-1000nm範囲のフィルムの測定を可能にする長波長システムが含まれています。RUDOLPH FE-IIIは、幅広い楕円測定アプリケーションが可能です。このデバイスの測定機能には、単層、多層、多層の表面における屈折率の解析に加えて、薄膜の厚さおよび光学定数の決定が含まれます。FE IIIはまた、リアルタイムでのデータ収集、分析、可視化を可能にし、信頼性の高いデータ取得とレポート作成を可能にします。要するに、RUDOLPH FE IIIは、薄膜や基板の光学特性を高精度で判別できる先進の楕円計です。その長波長範囲、直感的なユーザーインターフェイス、および高性能な機能により、科学的および産業用アプリケーションに不可欠なツールとなります。