中古 ADVANTEST R3765CH #9030222 を販売中

ADVANTEST R3765CHは、さまざまなコンポーネントと組み立てられたPCBのテストを実行するように設計された高度な電子試験装置（ATE）です。特に大量生産環境向けに設計されており、最先端の技術を活用してテストカバレッジを最大化しています。R3765CHは、強力なユーザーインターフェイスと直感的なテストインターフェイスを組み合わせ、使いやすく高性能なテストアプリケーションを提供します。1基板につき最大100個のシグナルを搭載する高度に自動化されたシステム、マルチPPM高速テスターによるインターバルおよびレイテンシ試験、および統計分析に基づいて補正を適用する体積試験方法を備えています。さらに、高速スキャン（HSS）と20ビットROMメモリ2-GHz組み込まれており、高精度な試験測定が可能です。最新の組込みマイクロプロセッサ技術を活用し、組込みメモリ上のテストプログラムを生成します。さらに、ODB、 P01、 ICSP、 CFI-MT01などの3つのプログラム可能な接続ポートを提供しており、異なる製造システムに統合できます。Advanced Signal Distribution Control （ASDC）システムを搭載し、さまざまなテストシナリオの要求に対応するカスタム構成を可能にします。ADVANTEST R3765CHは、TTL、 CMOS、 ACドライブ、デジタルロジックなど、さまざまなテスト機能を実行できます。専用の信号出力チャネル、インターフェイスI/Oポイント、および高レベルのバスインタフェースプロトコル（BIP）を組み合わせることで、テストカバレッジが向上し、複雑な信号解析およびパターン認識機能が向上します。これにより、単一のスキャンパターンを設定したり、複雑な回路経路のコンプライアンスを検証したり、同じネット上で複数のパターンタイプを実行したりすることができます。さらに、R3765CHはUSB、シリアル、イーサネット、GPIBなどのさまざまな接続規格をサポートし、優れた接続柔軟性を実現しています。また、内蔵のマルチチャネル電源解析も含まれているため、電圧、電流、電力の測定を同時に行うことができます。高度な検索アルゴリズムにより、デバイス上の迅速かつ正確な障害位置が可能になります。ADVANTEST R3765CHは、以前のR3760Hテスターの成功に基づいて構築された強力で実績のある機能を備えた電子テストラボに最適です。このATEは、高精度のテスト精度と汎用性、および他のソフトウェアテストツールとの包括的な統合を誇っています。それはあらゆる大量の生産環境のための理想的な選択です。