中古 ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9183764 を販売中

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ADE / KLA / TENCOR NanoMapper
販売された
製造業者
ADE / KLA / TENCOR
モデル
NanoMapper
ID: 9183764
ヴィンテージ: 2001
X-Ray spectrometer 2001 vintage.
ADE/KLA/TENCOR NanoMapperは、ナノマテリアルの特性評価用に設計された高解像度X線画像装置です。このシステムには、高度なビームライン光学を備えたADE超高分解能X線源と、ナノスケール表面トポグラフィ用のKLAナノスコーププロファイラという2つの技術が組み込まれています。これら2つの技術が協力して、これまでにないナノマテリアルの画像と測定を生成します。TENCORは、強力なナノ秒パルス200キロボルト電子インジェクタとビームライン光学をX線源に提供します。ビーム光学系は、最大ナノメートルの解像度で非常に高解像度の画像を提供します。これにより、個々のナノ構造の詳細な構造および要素解析が可能になります。このユニットには、X線イメージング用の充電結合デバイス(CCD)検出器、およびイオン相互作用から生じる電子を検出するためのマルチチャンネルプレート検出器も含まれています。ADE/KLA/TENCORナノスコーププロファイラは、ADE NanoMapperで使用される2番目の技術です。ナノスコープは連続的なナノメートルの表面トポグラフィ測定を提供し、表面積、粗さ、顕微鏡などのさまざまな表面パラメータを測定することができます。これは、X線源と組み合わせることで、ナノヤミクスと表面変数の非常に詳細な画像を作成することができます。KLA NanoMapperは、画像処理に加えて、ナノメートルスケールの特徴を詳細に解析するためのADE特許取得済みの走査電子顕微鏡(SEM)技術も搭載しています。この技術には、高感度電子検出器と組み合わされた高度な電子顕微鏡が含まれており、ナノ構造の形態的特徴の正確な画像を得ることができます。これにより、ユーザーにさらなる分析と比較のためのデータが提供されます。このツールはまた、ポータブル性が高いように設計されており、ユーザーはあらゆる環境でナノ構造のスナップショットを撮ることができます。これにより、さまざまな条件でナノ材料を特徴付けるのに理想的です。全体として、NanoMapperはナノマテリアルの特性評価用に設計された高度なX線イメージング資産です。超高解像度X線源、ビームラインオプティクス、CCD検出器、ナノスコーププロファイラ、スキャン電子顕微鏡を組み合わせた独自のモデルにより、ユーザーは比類のないナノ構造の画像と測定を高い移植性で得ることができます。
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