中古 ADE / KLA / TENCOR AWIS 3100 #9148343 を販売中

ADE/KLA/TENCOR AWIS 3100は、集積回路、パッケージング、その他の製品の開発および生産に使用される半導体デバイスの高解像度検査を提供するために設計された最先端のマスクおよびウェハ検査装置です。ADE AWIS 3100は、さまざまな高度なイメージング、計測、パターン認識技術を単一の統合プラットフォームに統合しています。高解像度のイメージングステーションを搭載し、超小型デバイスの画像を高精度にキャプチャできます。また、オンチップSRAMセルの欠陥を検出するための高度なSRAMメモリチップアナライザも備えています。SRAMメモリテスト機能は、タイミング、ロジック、および機能的欠陥の問題に苦しむ可能性のあるコンポーネントの分析に非常に役立ちます。また、KLA AWIS 3100は、高度な欠陥マッピングおよびレポート技術を備えており、エンジニアはマスクやウェーハの潜在的な欠陥を迅速に特定して特定することができます。ユニットは、欠陥の場所をマークし、可能性のある問題に関する詳細なレポートを提供することができます。これらのレポートは、欠陥タイプ、その場所、およびその他の関連する詳細などの追加情報を含めるようにカスタマイズできます。これにより、エンジニアは長時間の面倒なテストを必要とせずに、さまざまな欠陥を迅速に評価することができます。さらに、高度な光学ディフェクトマッピング機能を搭載し、均一でない照明でもマスクの欠陥を迅速かつ正確に検出することができます。この機能により、製造前に製品の欠陥を検出し、完成品の全体的な歩留まりと品質を向上させることができます。最後に、TENCOR AWIS 3100はユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスで設計されており、技術的背景に関係なく幅広いエンジニアや技術者に簡単に使用できます。そのため、高分解能・高精度検査が必要な半導体製造プロセスに最適です。