中古 ADE / KLA / TENCOR 575 #9132534 を販売中

この商品は既に販売済みのようです。下記の同じようなプロダクトを点検するか、または私達に連絡すれば私達のベテランのチームはあなたのためのそれを見つけます。

ADE / KLA / TENCOR 575
販売された
ID: 9132534
ヴィンテージ: 2005
Nitrogen cabinet system 2005 vintage.
ADE/KLA/TENCOR 575は、半導体ウェーハの検査および制御用に設計された高性能ウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、直径5。75インチまでの半導体ウェーハの電気的、光学的、物理的特性を測定することができます。ADE 575ユニットには、充電結合デバイス(CCD)を使用してウェーハ表面をスキャンする高度な光学検査機が含まれています。CCDセンサーは、ウェーハの上面と底面の両方を正確に検査し、形状やサイズを検出するだけでなく、欠陥などの他の機能を提供します。この光学ツールは、ウェーハの反射率と側孔サイズを測定するためにも使用されます。KLA 575アセットには、抵抗、電流漏れ、容量、電圧故障などの電気特性を測定する電気試験ステーションが含まれています。このテストステーションはまた、良いダイと悪いダイの高速自動ソートを提供します。電気プローブステーションがモデルに組み込まれているため、電流および抵抗試験用の個々のダイのプロービングが可能です。575装置はまたゲートの長さ、溝の深さおよび分離の間隔のような重大な次元を測定するのに使用される測定の場所を含んでいます。精密な3D形状を測定するために高精度レーザー干渉計が使用されます。さらに、TENCOR 575システムには独自の「Study Set」機能が搭載されており、複雑なプロセス検討を行うことができます。この機能により、プログラムコードと相関関係を持つウェハロットの完全な特性評価と、体系的要因の正確な分析が可能になります。この機能は、高度なデータ分析機能を通じてデータのレビューと分析もサポートします。ADE/KLA/TENCOR 575ユニットは、制御、テストシーケンス、データ分析用のソフトウェアの完全なパッケージも提供します。このソフトウェアは、他のインラインプロセスとの簡単な操作と統合のために設計されています。ソフトウェアはまた、収集されたすべてのデータが自動的に保存され、レビューのために簡単に利用可能であることを保証します。全体として、ADE 575は高度なプロセス制御および監視用に設計された高性能ウェーハ試験および計測機です。このツールは、半導体ウェーハの電気的、光学的、物理的特性を柔軟かつ正確に測定することができます。さらに、高度なソフトウェアおよびデータ分析機能を通じてデータのレビューと分析が提供され、効率的で信頼性の高い運用が保証されます。
まだレビューはありません