中古 ACCRETECH / TSK / XANDEX B010 #9188540 を販売中

ACCRETECH/TSK/XANDEX B010は、半導体ウェーハの正確かつ再現可能な測定を提供するように設計されたウェーハ試験および計測機器です。レーザー干渉計と電子ビームセンシング技術の両方を備えており、ウェハレベルの包括的なテスト機能を提供します。TSK B010はレーザー干渉計を使用してウェーハの寸法を正確に測定します。干渉計で得られた結果の精度はナノメートル順であり、MEMS、ナノエレクトロニクス、その他の精密部品などの用途で使用されるウェーハの試験に最適です。また、3次元イメージングモードを備えており、ウェーハの構造や形状を測定および分析することができ、従来の方法よりも正確なデータを提供します。XANDEX B010はまた、ウェーハ試験用の高性能電子ビーム（EB）センシングシステムを提供しています。これにより、正確な輪郭、変位、および膜厚測定に追加の機能が提供されます。また、EBユニットは、低試料の汚染レベルを維持し、充電または迷惑電子によるアーチファクトを低減するための真空装置を備えています。ACCRETECH B010から測定値を取得するには、このツールは統合されたイーサネット接続を介してコンピュータに接続されます。さらに、テストデータを分析およびアーカイブするためのオプションのソフトウェアパッケージも提供しています。一貫した測定を保証するために、B010は包括的な制御機能を使用して、サンプルの温度、位置、露出を調整します。さらに、その設計は高度に構成可能であり、ユーザーはニーズに合わせて特定のセンサーとテストシステムを統合することができます。結論として、ACCRETECH/TSK/XANDEX B010は、半導体業界のさまざまな用途に適した、高精度で再現性のあるウェーハ試験および計測資産です。高度なレーザー干渉計と電子ビームセンシング技術により、正確な測定が可能になります。また、統合されたイーサネット接続とオプションのソフトウェアパッケージにより、データの分析とアーカイブが容易になります。TSK B010はまた、一貫性のある測定を保証し、信頼性の高い結果を実現するための設定可能な制御機能を提供します。