中古 ACCRETECH / TSK AM16019 #9193392 を販売中

ID: 9193392
ヴィンテージ: 2007
Wafer thickness measurement systems 2007 vintage.
ACCRETECH/TSK AM16019は、半導体デバイス製造に最適な、自動化された大規模なウェーハ試験および計測機器です。高精度で幅広い測定機能を備えているため、ほとんどの量産試験環境のニーズに対応できます。TSK AM16019の主な特徴は、1時間あたり最大500個のウェーハを素早くテストできるテスターステーションです。パラメトリックおよび機能テスト、プローブカード使用、フリップチップ試験など、さまざまなアプリケーション領域に使用できます。その設計は大きい部品および据え付け品への容易なアクセスを可能にし、有効なテストおよび診断を提供します。システムの計測部分は、電気的、光学的、機械的特性など、さまざまなデバイスパラメータの信頼性の高い測定を提供します。さまざまな種類のイメージング、スキャン、およびその他の計測技術を使用して、さまざまなデバイス特性を正確に測定します。このユニットは、正確で迅速なテストを確実にするために、精密で反復可能な校正技術を備えた大規模な2Dおよび3Dビジョンを備えています。ACCRETECH AM16019機械はまた複雑な操作のための容易な組み立てを可能にする高度のテスト制御ソフトウェアを提供します。このソフトウェアは、パラメータの最適化、データロギング、テストプロセスを自動化するためのカスタムレシピなどの機能をサポートしています。さらに、機械学習とディープラーニング技術が含まれており、スマートな意思決定と失敗分析を可能にします。このツールには、測定後のデータ分析のためのツールを提供する分析ステーションも含まれています。データを可視化し、さまざまなグラフや統計操作を通じて潜在的な問題を容易に特定することができます。さらに、この分析ステーションはトレーサビリティとデータセキュリティ機能を備えているため、製品の一貫性を確保しやすくなります。結論として、AM16019は、最新の大量生産環境のニーズを満たすように設計された強力なウェーハテストおよび計測資産です。さまざまなデバイスパラメータを迅速かつ正確にテストおよび測定することができ、高度なソフトウェアおよび分析ステーションにより、データの効率的で信頼性の高いテストおよび分析が可能です。
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