中古 ACCRETECH / TSK UF 200S #150857 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200S Proberは、半導体デバイスの性能と生産品質を検査するために特別に設計された高度なプロバーシステムです。このプローバは、さまざまな基板、フレームおよびその他の関連部品の表面平坦度、温度、湿度、変形、振動、ひずみ、およびその他のパラメータを迅速かつ正確に測定できます。TSK UF200Sは、革新的で信頼性の高いマルチチャンネルスキャンアルゴリズムを使用して、正確で正確なデータ取得と分析を保証します。ACCRETECH UF 200 Sは、ユーザーが特定の要件に合わせてカスタマイズできるモジュラーコンポーネントで設計されています。これは、高速なデータ収集と分析を可能にする大容量のメモリ容量を備えた強力なプロセッサを備えています。このスキャナは、CCDカメラとズームレンズ付きの統合顕微鏡と統合されており、試験中のサンプルの高解像度画像を提供します。その調節可能な顕微鏡の段階はX軸、 Y軸およびZ軸の方向に沿って動くことができます。サンプルの高解像度画像、角度および線形測定、表面平坦度、面積、傾き、その他のパラメータなど、非常に広範囲の測定が可能です。TSK UF 200 Sには、さまざまなテストヘッドモジュールとさまざまな測定アクセサリも含まれています。これらのコンポーネントモジュールと統合することで、ユーザーは完全なテストシステムを簡単に作成し、テストプロセスを最適化できます。また、強力なソフトウェアパッケージを提供しており、ハードウェア、データ処理、分析、レポート、その他の機能の完全なセットをユーザーに提供します。ACCRETECH/TSK UF200Sは、さまざまなサンプル特性を迅速、正確、確実に測定できる幅広い機能を備えています。最大400平方ミリメートルの広いサンプル領域と0。5ナノメートルまでの精密なスキャン解像度を提供します。また、1ナノメートルまでの高さの変動を測定することができます。さらに、正確な位置決め精度により、プローバー上にサンプルを正確に配置することができます。さらに、10msの高速スキャン時間により、大量のサンプルを素早く測定できます。ACCRETECH UF 200Sは、半導体デバイスの性能と生産品質を正確に測定するための幅広い機能を備えた先進的なプロバーシステムです。正確で信頼性の高いスキャンアルゴリズム、モジュラーコンポーネント、強力なソフトウェアパッケージを提供し、テストと分析を容易かつ効率的にします。UF 200Sは、テストプロセスの精度と効率を最大限に高めたい企業にとって理想的な選択肢です。