中古 JEOL JSM 6400F #9089825 を販売中

JEOL JSM 6400Fは、研究および産業用途の両方に画期的な画像処理および分析機能を提供するために設計された高性能フィールドエミッションスキャン電子顕微鏡（FE-SEM）です。高効率な設計により、最高の性能を発揮し、従来のSEMよりも大幅に高解像度、高倍率、低騒音、高速な画像処理を実現します。JEOL JSM 6400 Fは、標準的なショットキーまたはタングステン場の放出源に比べて優れた解像度と画像解像度を提供する電界放出銃（FEG）を備えています。FEGは0。2から30KeVの間の一次電子エネルギーの範囲を作り出すことができる。これにより、より広範囲のイメージング機能が可能になり、標本の微妙な特徴を検出および識別する能力が向上します。また、6400Fは広い被写界深度と高速スキャン速度を備えているため、焦点を近接面からサブサーフェスに変更しても、正確で高解像度のイメージングとデータ取得が可能です。JSM 6400Fは、収差補正と分解能を最適化するために最適化されたインレンズとポストレンズコンデンサーレンズを利用した、高性能で空間的に均一な電子レンズシステムを備えています。さらに、最新の画像プリプロセッシング技術を搭載しており、利用可能な最高の画像処理を提供します。JSM 6400 Fは、エネルギー分散分光法（EDS）、波長分散分光法（WDS）、電子逆散乱回折（EBSD）、カソードルミネンス（Cathodoluminence）など、さまざまな分析およびイメージング機能も備えています。これらの最先端の機能により、JEOL JSM 6400Fは分析および画像技術のための貴重なツールとなります。JEOL JSM 6400 Fはまた、効率的かつ効果的な操作をサポートするためのソフトウェア機能の広い範囲を提供しています。これらには、自動試料ステージ制御システム、試料スキャンを管理するための高度なツール、効率的な操作のための直感的なユーザーインターフェイスが含まれます。JSM 6400Fは、今日の研究および産業用ナノテクノロジーの用途に合わせてカスタマイズされた広範な機能と機能を備えた、イメージングおよびマイクロアナリシス用の強力で汎用性の高い機器です。