中古 AMRAY 3200C #9194584 を販売中

AMRAY 3200Cは、様々な材料の高解像度イメージングと解析用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。SEMは、電子カラムと検出器を使用して、4ナノメートルの横方向と1ナノメートルの深さまでの分解能でサンプルの画像を取得します。3200Cは最大30kVの加速電圧と18ナノメートルのスポットサイズを備えており、高解像度のイメージングと測定に最適です。SEMの視野は調整可能で、直径2。5ナノメートルまで調整することができ、単一のスポットの正確なイメージングまたは分析を可能にします。機器の動作条件は、特定のアプリケーションに必要な条件を提供するために、リモートで調整および制御することもできます。これには、加速電圧、圧力、温度などの機能が含まれます。AMRAY 3200Cには、イメージングや解析に最適な複数の機能が搭載されています。サンプルの正確な位置決めを可能にする自動ステージ、高電流イメージングと解析のための電子源、最小の収差で拡大画像を提供する同軸レンズを備えています。マルチチャネル検出器が用意されており、さまざまな信号処理機能が可能です。さらに、SEMには、非導電性サンプルを分析するための統合された低真空システムが含まれています。また、SEMにはさまざまなアクセサリがあり、特定のアプリケーション用にインストゥルメントセットアップをカスタマイズするために使用できます。これには、cryo-transfer stage、高温サンプルステージ、および画像を撮影したり測定を行ったりしながらサンプルを操作するためのプローブの範囲が含まれます。そのイメージングおよび解析機能に加えて、3200Cはスパッタコーティング、腐食試験、欠陥解析などの他のアプリケーションにも適しています。SEMにより、すぐにフィードバックできるサンプルの迅速な処理が可能になり、迅速な診断テストに最適です。全体として、AMRAY 3200Cは、イメージングや解析など、さまざまな用途に適した高度な走査型電子顕微鏡です。高解像度のイメージングおよび解析機能、および調整可能な条件、および特定のアプリケーション用に機器のセットアップをカスタマイズするためのさまざまなアクセサリを提供します。