中古 ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100 #9100377 を販売中

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ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100
販売された
ID: 9100377
ウェーハサイズ: 12
Etch depth measuring systems, 12".
高度な計測システム(AMS) ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100は、マスクとウェハの検査を次のレベルに引き上げ、優れたスキャンおよび検出機能を提供します。この下流工程検査装置は、最先端のハードウェアと直感的なソフトウェアを組み合わせた堅牢なソリューションを提供し、製造メーカーは欠陥を迅速かつ正確に特定できます。AMS IR3100の先進技術は、金型検査からウェハマッピングまで、比類のない精度と信頼性を提供します。このシステムは人間工学に基づいたビジョンで設計されており、コンポーネントへの優れたアクセシビリティと簡単な調整を提供しているため、オペレータはユーザビリティ指向の環境から恩恵を受けることができます。さらに、ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100は、自動化されたゴニオメーターカセットを備えており、従来の電動ゴニオメーターと比較して優れた精度、速度、汎用性を提供します。この機能は、校正ステップの数を減らしながら、一貫した信頼性の高い測定を保証します。AMS IR3100は、最大4Mピクセルのスキャンが可能な超高解像度検査ユニットを提供します。ウエハ構造を正確に評価するために不可欠な4ミクロン以下のサイズの欠陥を検出することができます。強力なイメージング技術により、製造メーカーは複雑なウェハマッピングと測定パラメータを実行することもできます。これにより、コンシューマーエレクトロニクスから衛星通信まで、さまざまな業界に適しています。ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100は、検出およびイメージング機能に加えて、一連の自動計測機能も提供します。これらには、オペレータが複数のタスクを同時に実行できる多重化機能が含まれます。イメージの速く、正確な測定のための高められた二重化;正確な欠陥検出のための2D検査エンジン;複雑なウェーハ情報のレポートエンジンです。これらのすべての機能は、ツールが最高水準の精度と再現性を満たしていることを保証するように設計されています。結論として、Advanced Metrology Systems (AMS) IR3100は、優れたスキャン機能を提供する高度なマスクおよびウェーハ検査アセットです。その高度な技術により、迅速で信頼性の高い欠陥検出と測定が可能になり、自動化された計測機能により、ユーザーは簡単かつ正確に複雑なタスクを実行できます。人間工学に基づいた機能により、優れたアクセシビリティを提供し、マスクおよびウェーハ検査のニーズに対応する信頼性の高いソリューションを探しているメーカーにとって、このモデルは価値のある選択肢となります。
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