中古 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9163072 を販売中

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ACCRETECH / TSK Win-Win 50
販売された
ID: 9163072
ウェーハサイズ: 12"
Defect inspection system, 12".
ACCRETECH/TSK Win-Win 50は、半導体業界で使用されるウェーハの表面検査に使用される半自動マスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、標準的なCMOSデバイスとハイエンドメモリICの両方のために設計されています。粒子、傷、その他様々な異常の微細な欠陥を検出する高速検査が可能です。このユニットは、マシンホストコンピュータに接続されたインタラクティブなユーザーコントロールモニターで構成されています。高精度のXYステージと高解像度の光学ツールを搭載し、ウェーハとカメラの間に最大260mmの作動距離を提供します。これにより、検査プロセスのためのウェーハの正確な位置決めが可能になります。また、顕微鏡レンズには最大15°±の傾き角度があり、ウェーハ表面の曲率によって肉眼では見えない欠陥を容易に検出することができます。TSK Win-Win 50は、TSK VisionTools Inspection Assetを使用して、0。3マイクロメートルのウェーハ上の欠陥の検出を容易にします。ソフトウェアは、検出された欠陥の迅速かつ正確な編集を可能にする欠陥編集機能を含み、高速なプロセスフローを可能にします。また、タイプ、サイズ、位置によって欠陥を正確に認識する高度なアルゴリズムも提供しています。このモデルには、デバイスキャラクタライゼーションソフトウェアパッケージも含まれており、表面幅、線幅、ピッチなどのデバイスジオメトリを自動測定できます。これにより、デバイスのパフォーマンスを簡単に評価し、デバイス品質を向上させるために対処する必要のある欠陥を特定できます。ACCRETECH WIN WIN 50は、さまざまな標準的なクリーンルーム環境で動作するように設計されており、機器に組み込まれたいくつかの空気浄化システムを備えており、システム操作とウェハ検査にクリーンな空気を提供します。直感的なユーザーインターフェイスと使いやすい機能を備えたこのユニットは、高度な半導体製造のニーズに適しています。
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