中古 ACCRETECH / TSK Win-Win 50-A5000 #9178496 を販売中

ACCRETECH/TSK Win-Win 50-A5000 Mask&Wafer Inspection Equipmentは、半導体マスクおよびウェーハ欠陥を検査するための包括的なソリューションを提供するために設計された包括的で高精度なツールです。このシステムは、堅牢で信頼性が高く、高い精度と信頼性を提供するように設計されています。あらゆるタイプのマスク、ウェーハ、または光電子デバイスの欠陥を診断するのに役立つ包括的な機能セットを提供します。顕微鏡イメージングマシンと焦点イオンビームと原子力顕微鏡技術を組み合わせた高度な検査技術を採用しています。この統合により、構造をナノメートルレベルまで解析し、非表示の欠陥や変形を検出することができます。イメージングツールは、光学およびX線機能を備えた設計可能なスキャンエリアで構成され、視野を自動的に調整します。このアセットは、並列イメージングモデルを備えた高度なSEM/FIBイメージングと、シームレスな画像染色のための自動化されたステッチ機能も提供しているため、複雑または困難な欠陥の広範なデジタル画像を返すのに理想的です。TSK Win-Win 50-A5000は、高精度のスキャン精度を備えており、厳格な品質管理と生産業務に適しています。また、自動化された高精度なアライメント装置を備えており、マスクやウエハ形状の非常に小さな変形を検出することができます。このシステムは、エッチングシルエット、エッチング角度、エッチングシンケージを正確に読み取ることができます。さらに、マスクやウェーハの構造異常（欠陥、亀裂、不均一な形状など）を正確かつ迅速に検出することができます。さらに、ACCRETECH Win-Win 50-A5000は、マスクおよびウェーハ欠陥の検出および分析を簡素化するための強力な組み込みツールを幅広く提供しています。これには、ユーザーフレンドリーなスキャンとデータ比較機能のスイートと、ネットワーク接続を介してデータを準備および転送するための包括的なソフトウェアツールのセットが含まれます。さらに、内蔵の光散乱および反射（OSR）検出器は、さまざまな動作モードを提供し、滑らかな表面から最も小さな欠陥を識別および識別するのに役立ちます。全体として、Win-Win 50-A5000 Mask&Wafer Inspection Machineは強力な機能と機能を備えており、ユーザーはあらゆる種類の半導体マスクまたはウェーハ欠陥を最高レベルの精度と信頼性で識別して対処することができます。このツールは、研究開発環境と生産環境の両方で使用するために最適化されており、最大の生産性、コスト効率、および品質保証を保証します。