中古 DNS / DAINIPPON RE-5200 #9104130 を販売中

DNS/DAINIPPON RE-5200 Ellipsometerは、薄膜の特性を測定するために使用される高精度で汎用性の高い機器です。材料表面から光を反射し、偏光の変化を測定・記録する楕円計測の原理を利用しています。これにより、膜厚、屈折率、光学定数、薄膜や表面の双対性を決定することができます。DNS RE-5200エリプソメータは、350〜2000 nmの波長範囲を利用して、優れた柔軟性を発揮します。この機械には、3波長源、1軸取付回転段、および異方性フィルム、複合材料、およびいろいろな光学特性を測定できる独自の電子偏光平面分析装置（EPPA）が装備されています。ツインコンパートメントのサンプルと検出器ハウジングは、サンプル、光源、および検出器を明確に分離し、外部光と振動の影響を最小限に抑えます。また、試料の位置合わせを支援するビューファインダーCCDカメラと、精密な位置決めのための電動X軸とY軸サンプルステージを備えています。DAINIPPON RE-5200エリプソメーターは、使いやすいグラフィックインターフェースで簡単に操作できます。膜厚測定では最低0。5ナノメートル、屈折率測定では0。01と高精度です。また、レギュレーションなしで最大50個のサンプルを測定できる自動測定機能、サンプル位置を補正して光をサンプルにオートフォーカスするオートアライメントモード、さまざまなフィルムタイプを測定できるマルチサンプルホルダーなど、複数の高度な機能を備えています。さらに、このモデルは、細菌汚染の可能性を最小限に抑えるために抗菌ボディで設計されています。全体として、エリプソメーターRE-5200実験的なセットアップに最適な候補です。高精度、柔軟性、操作の容易さを提供し、さまざまな測定用途に対応する強力で信頼性の高い機器です。