中古 GENESIS MegaSIMS #293669186 を販売中

GENESIS MegaSIMSは、サンプル表面の元素組成を測定するために二次イオン質量分光法（SIMS）を利用した表面解析装置です。MegaSIMSは、高い感度と速度で、100万分の1までのレベルに存在する要素を識別することができます。新しいLASSENイオン光学系を搭載しており、解像度の向上と表面元素組成解析の高度化を可能にします。LASSENイオン光学にはいくつかの有用な属性があります。生物学的に関連する分子のSIMS解析に最適な非常に低い二次イオンエネルギーを使用することができます。これは、表面結合した分子の原子をより少ない化学バイアスで質量解析することで、サンプルの化学と組成をより明確に理解できることを意味します。さらに、低エネルギーの二次イオンとGENESIS MegaSIMSを使用することで、イオン中間エネルギーを低減し、サンプル充電を低減します。これにより、分析を実施する前に専門的なサンプル調製の必要性が低減されます。MegaSIMSには、解析を最適化するために複数の質量分析計が搭載されています。一次検出器は、二次イオンを検出するために使用される二次電子検出器です。次に、二次イオンをマトリックス支援レーザー脱離（MALDI）システムによって解析し、表面の元素組成を特定します。これには、要素の可能な位置の識別が含まれます。MALDIシステムは、サンプルをさらに分析するために同位体比を測定するのにも役立ちます。MALDI解析が完了すると、サンプル中に存在する元素の相対的な豊富さを測定する二次イオン質量分析（SIMA）が行われます。豊富なマッピングに便利なツールで、幅広い濃度の要素を検出できます。GENESIS MegaSIMSは同位体分析にも使用できます。このタイプの分析は、放射年代測定、またはサンプルの起源を理解するためによく使用されます。同位体分析には、高貴なガス質量分析計も利用できます。これは、特定の元素の異なる同位体を識別するために使用されます。全体として、MegaSIMSは、サンプル表面の包括的な分析に使用できる強力で信頼性が高く、汎用性の高いツールです。LASSENイオン光学系およびその他の質量分析計を効果的に使用することで、サンプルの元素組成の包括的な分析、および同位体比および相対的な豊富なマッピングを可能にします。これにより、固体サンプルまたは液体サンプルのいずれかを分析する研究室にとって有用なツールとなります。