中古 JEOL JSM 6400F #9210557 を販売中

JEOL JSM 6400F
製造業者
JEOL
モデル
JSM 6400F
ID: 9210557
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6400Fは、高効率ショットキーフィールドエミッターガンにより、幅広いサンプルのイメージングや解析に最適な走査型電子顕微鏡(SEM)です。その高分解能と広い被写界機能により、サンプルの表面構造と内部特徴の両方を解決することができます。これは、低kV範囲までのサンプルをイメージングすることができる高分解能領域検出器を備えています。JEOL JSM 6400 Fは、2軸チルトホルダーを使用して、サンプルの3D-surfaceビューを生成するために、様々な角度でサンプルを画像化し、垂直方向や水平方向からもビューを取得します。JSM 6400Fの素晴らしい機能の1つは、信号チャネルのセンシング性能です。この特定の信号チャネルは、X-Yイメージングシステムと高度な信号回路によってバックアップされます。これらの機能により、低電圧画像とクイックイメージディスプレイが可能になり、生物学的および有機的サンプルの観察および分析に最適です。このSEMには、最大40万倍までの広範囲の倍率機能が搭載されています。また、このSEMは、電子ビーム誘導試料の充電蓄積を防止するために必要な、3。2〜5トーラーの一定の顕微鏡観測室圧力を維持することができる堅牢な環境システムを備えています。JSM 6400 Fにはコンピュータ制御のオートステージも装備されており、画像処理後のサンプルステージを様々な位置に自動的に移動させることで、スピードと精度を向上させます。このSEMには、画像取得後のSEM画像の明るさとコントラストを正確に調整できる明るい視野光学制御機能も搭載しています。この機能により、画像化が困難な複雑な生物構造を可視化するために重要な極めて弱い信号の可視化と解析が可能になります。最後に、JEOL JSM 6400Fには、ユーザーフレンドリーで直感的なデータ収集と分析のためのさまざまなソフトウェアパッケージがあり、使いやすさを実現しています。JEOL JSM 6400 Fの倍率は限られていますが、このSEMの汎用性と性能は、利用可能なハイエンドSEMの中にしっかりと配置されています。解像度、チルトホルダー、コンピュータ制御機能が強化されているため、幅広いサンプルのイメージングと分析に非常に強力なツールです。
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