中古 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720 #9097133 を販売中

AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720
ID: 9097133
ウェーハサイズ: 6"
ヴィンテージ: 1997
Wafer inspection system, 6", 1997 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 720は、高度な半導体検査および計測用途向けに設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。高速で高解像度のイメージングシステム、高度なアルゴリズム、高度な光学を備えています。その強力な検査機能により、正確で再現性が高く信頼性の高いウェーハ欠陥検出が可能になり、さまざまな半導体製造プロセスでの使用が可能になります。このユニットは、高出力レーザー照明源、精密光学、および光を集中させる光学で構成されています。CCDイメージセンサアレイを使用して、サブピクセル解像度で連続画像をキャプチャします。高出力の照明源は高分解能のイメージ投射を提供し、光学はビームがマスクまたはウエハの表面に焦点を合わせることを可能にします。また、オプティクスを使用することで、ウェーハ上の隣接するフィーチャー要素間の距離を測定し、アライメントエラーを検出することができます。AMAT WF 720は、高度なオートメーション技術とプログラマビリティを提供し、自動化された再現可能なウェーハ検査、計測、欠陥検出を可能にします。このツールには、測定データを分析し、ウェーハの欠陥を検出するための高度なソフトウェアと画像処理アルゴリズムも含まれています。最大6,200 wpmの測定レートを備えており、高いスループット検査が可能です。このアセットには、コンパクトで軽量なシャーシが装備されており、迅速かつ簡単にインストールできるように設計されています。それは維持のための速く、適用範囲が広い力の上下を可能にする電圧インバーターによって動力を与えられます。また、他のシステムとインタフェースするための高速I/Oポートも備えています。ORBOT WF 720は、最大8インチ径のマスクとウェーハの両方に検査機能を提供し、高解像度のイメージングと欠陥検出を提供します。このモデルはCEおよびISO規格に準拠しており、さまざまな産業環境で最高のパフォーマンスを保証します。このデバイスは、半導体検査の厳しい要件を満たすように設計されており、高精度プロセス制御のための理想的なツールです。
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