中古 ADVANTEST T 5586 #9075036 を販売中

ADVANTEST T 5586は、電子半導体製品の製造においてより高い品質と信頼性を提供するように設計された洗練された効率的な最終試験システムです。このシステムには、ATPG （Automatic Test Program Generator）モジュール、Core Test Module （CTM）、 Transistor-Mixer-Shift Comparator （TMSC）モジュール、Environmental Stress Test （EST）モジュール、adVd Monitor mode Modode mode）モジュールなどのテスト・モジュールがあります。ATPGモジュールは、製造されたデバイスのさまざまな動作に正確に応力を与えるテストを生成するように設計されています。デバイスの信頼性の高い動作をテストするための現実的な条件を表す複雑なテストパターンを生成することができます。さらに、このモジュールは、テスト中に収集されたパラメータ測定の包括的な分析も提供します。CTMモジュールは、半導体製品の高度に自動化されたテストリソースです。オープンアーキテクチャ設計を採用しており、様々なプログラミング言語やロジックデザインのユーザーがアクセスできるようになっています。このモジュールは、組み込みプロセッサを使用してテストパターンを解釈し、一連のコアテストコマンドを供給して、基板から基板までのテストを自動化するように設計されています。また、CTMモジュールは、DFT （Design-for-testability）テストや、製品に必要な特殊なテストなど、幅広いテストを提供しています。TMSCモジュールは、TMS （Transistor-Mixer-Shift）デバイスとコンパレータモジュールを組み合わせたものです。高速アプリケーションでロジック信号やコンポーネントを測定するための信頼性が高く、正確で堅牢な方法を提供するように設計されています。このモジュールはトリプルDIO （Digital Input Output）アーキテクチャを搭載しており、最大3台のデバイスの同時テストが可能です。このモジュールはまた、正確なテストパターンが生成されることを保証するために、エラー検出および修正システムを備えています。ESTモジュールは、ユーザーが極端な温度、圧力、湿度条件で半導体部品をテストできるように設計されています。このモジュールは、最大180 MPa（ミリバー）の圧力で-40C〜+120Cの環境条件下でコンポーネントをテストすることができます。さらに、ESTモジュールは30分以内に+99％ RHに達することができ、単一のコマンドで環境評価を切り替えることができます。最後に、Advanced Monitor Mode （AMM）モジュールは、デバイス製造の生産プロセスを監視し、設定された基準に従って高品質のデバイスが製造されるようにします。このモジュールは、製造プロセスからのエラーや逸脱を検出し、問題のオペレータに警告することができます。この情報は、品質管理プロセスを改善し、製造プロセスの効率と信頼性を向上させるために使用することができます。